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            DZN200M倒置金相顯微鏡
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            DZN200M倒置金相顯微鏡
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            半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。


            高精度粗微動調焦機構

                   

                   采用底手位粗微調同軸調焦機構,左右側均可調節,微

            調精度高,手動調節簡單方便,用戶能夠輕松得到清晰舒適

            的圖像。粗調行程為38mm,微調精度0.002。




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                   采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常

            規人群操作習慣。用戶操作過程中,便于調焦機構與平臺移

            動的操作切換,為用戶提供更加高效的工作環境。




            落射柯拉照明系統


                   采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常

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